XRF光譜儀VR-T5

XRF光譜儀VR-T5

型號︰VR-T5

品牌︰VRAY

原產地︰中國

單價︰-

最少訂量︰1 件

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產品描述

硬件獨特性:超高的分辨率可輕鬆解決貴金屬行業無損分析的任何複雜要求,輕鬆分析金、鉑、銥、鎢、鈀、銀、釕等等,實為貴金屬行業性價比 光譜儀。

軟件優越性:XRF菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算系統;軟件除能顯示金屬百分比純度外,亦可顯示黃金K值;軟件可自動重複檢測,自動測算多次檢測的均值;獨具全局故障診斷系統;計算報告的打印格式多樣化,完全滿足客戶各種形式的打印要求。

激發源Mo靶的X光管 風冷 (無輻射)

探測器:Si-PIN 探測器 (美國進口)  145Kev ± 5

高壓裝置:0—50KV

 

 

 

 

 

其它規格

電壓:交流220V/50Hz
功率:144W
處尺寸:450mm*650mm*350mm
重量:32kg

技術指標:

分析範圍:0.001% ~ 99.99%
測量時間:自適應
測量精度:± 10ppm ~ 0.1%

分辨率  :145Kev ± 5
測試環境:常溫常態
分析元素:除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外,該型號還能對從Na至U的70多種元素進行分析,實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。
X射線源:X射線光管
高壓器:0~50Kv
操作系統:Windows2000/Me/XP

鍍層測量:

鍍層厚度範圍<30μm
測量層數:5層
測量精度:0.03μm