產品描述

硬件獨特性:超高的分辨率可輕鬆解決貴金屬行業無損分析的任何複雜要求，輕鬆分析金、鉑、銥、鎢、鈀、銀、釕等等，實為貴金屬行業性價比 光譜儀。

軟件優越性：XRF菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算系統；軟件除能顯示金屬百分比純度外，亦可顯示黃金K值；軟件可自動重複檢測，自動測算多次檢測的均值；獨具全局故障診斷系統；計算報告的打印格式多樣化，完全滿足客戶各種形式的打印要求。

激發源：Mo靶的X光管 風冷 (無輻射）

探測器：Si-PIN 探測器 (美國進口)  145Kev ± 5

高壓裝置：0—50KV

 

 

 

 

 

其它規格：

電壓：交流220V/50Hz
功率:144W
處尺寸:450mm*650mm*350mm
重量:32kg

技術指標：

分析範圍：0.001% ～ 99.99%
測量時間：自適應
測量精度：± 10ppm ～ 0.1%

分辨率  ：145Kev ± 5
測試環境：常溫常態
分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外，該型號還能對從Na至U的70多種元素進行分析，實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。
X射線源：X射線光管
高壓器：0～50Kv
操作系統:Windows2000/Me/XP

鍍層測量：

鍍層厚度範圍<30μm
測量層數：5層
測量精度：0.03μm